FSA-1光纖光譜儀及應用光譜學實驗
簡介:
光譜學是一門主要涉及物理學及化學的重要交叉學科,通過光譜來研究光波與物質(zhì)之間的相互作用。光譜是電磁輻射按照波長的有序排列。根據(jù)實驗條件的不同,各個輻射波長都具有各自的特征強度。通過光譜的研究,人們可以得到原子、分子等的能級結(jié)構(gòu)、能級壽命、電子的組態(tài)、分子的幾何形狀、化學鍵的性質(zhì)、反應動力學等多方面物質(zhì)結(jié)構(gòu)的知識。但是,光譜學技術并不僅是一種科學工具,在化學分析中它也提供了重要的定性與定量的分析方法。
光纖光譜儀作為一種成本低、小型化、穩(wěn)定性高的分析儀器,具有其它技術更強的優(yōu)勢,國內(nèi)不少院校開始開設相關課程以滿足光譜產(chǎn)業(yè)化發(fā)展的人才需求。該實驗系統(tǒng)旨在讓讓光電專業(yè)學生通過這套系統(tǒng),提前了解相關理論,并應用理論處理一些實際測量的問題,并可以作教師和學生的一些自主研發(fā)實驗提供平臺。
原子發(fā)射光譜的測量
氣體放電燈的光譜測量以及氫原子里德伯常數(shù)計算
輝光球發(fā)射光譜測量及輝光氣體成分判斷
激光和LED發(fā)射光譜的測量
激光光譜的測量
LED發(fā)光二極管發(fā)射光譜的測定實驗
熱輻射光源光譜的測定
光纖溴鎢燈發(fā)射光譜測量。
熱輻射溫度與中心波長的關系
透射光譜的測量
物體透射光譜的實驗搭建和測量
中性濾光片的透射光譜測量
干涉濾光片的透射光譜測定
有色玻璃的透過率測定(選做)
反射光譜的測定
物體反射光譜的實驗搭建和測量
反射光譜測量的原理和標定
幾種樣品的反射光譜測量
薄膜厚度和光學常數(shù)測量
干涉薄膜反射光譜的測定
根據(jù)干涉極值(峰谷)測定薄膜的厚度
根據(jù)反射光譜用擬合算法來測定薄膜的厚度和光學常數(shù)。
色度學測定
三刺激値的概念和測定
透明物質(zhì)的色度測量
紙張涂料的色度測量
發(fā)光體的色度測量
規(guī)格參數(shù):
1.光纖光譜儀:波長范圍:350-1000nm;光學分辨率:2nm;波長精度±1nm狹縫:25um;雜散光<0.05%@600nm光纖連接器:SMA905;探測器:2048線陣 CCD;信噪比:250:1 全光譜;積分時間:3ms-10分鐘;A/D :12位 USB 通訊與供電,無需外部電源;功耗:120mA @ 5VDC;尺寸:64mm×89mm×36mm;重量:200g。
2.光纖鹵鎢燈光源:波長范圍:350-2500nm;燈泡功率:150W;輸出光強可調(diào);預熱時間:10 分鐘;光源壽命:2000 小時;光輸出穩(wěn)定性:0.15%。
3.光纖跳線:光纖芯徑:200um,600um;數(shù)值孔徑:0.22NA;長度:500cm; 鎧甲護套;
4、反射式光纖跳線:探頭端部采用 6 繞 1 光纖束設計,中央1 根光纖收集反射光,6 根照明光纖;光纖芯徑:200um;數(shù)值孔徑 NA:0.22;鎧甲護套,SMA905接頭。
5.高亮度紅光/綠光/藍光/白光 LED 光源:波長 630nm、530nm、465nm;
6.測試樣品組件:
鍍膜硅片;選擇吸收濾光片、截止濾光片、中性密度濾光片、帶通濾光片;顏色濾光片,反射色板紙張;
7.化學實驗器具:石英比色皿、熒光比色皿等。
8.多種光譜測試平臺:包括三通樣品池,反射探頭支架,透射式樣品支架;各種光學調(diào)整架及機械夾持件,包括導軌、滑塊、調(diào)整架等。
9.薄膜測厚軟件:擬合算法,薄膜測量厚度范圍 20nm-100um,可同時測量1-4層薄膜。
10光譜測量綜合軟件:光譜模式下操作光譜儀采集光譜數(shù)據(jù),支持多種格式的數(shù)據(jù)導出,軟件內(nèi)置多種應用模塊,包括顏色測量、透過率、反射率測量等。